Опис

Набір включає в себе платформу, на якій змонтований напівпровідниковий лазер з джерелом живлення, дифракційна решітка і спеціальна лінійка. Електрична схема живлення дає можливість плавно регулювати напругу, що подається на лазерний діод. Для вимірювання напруги живлення на платформі є клеми, до яких при проведенні експерименту слід підключати цифровий вольтметр. Лінійка використовується для реєстрації дифракційного спектра. Платформа і лінійка мають магніти для закріплення їх на вертикальній поверхні класної дошки. Закріплення лазера і дифракційної решітки на платформі також виконано з використанням магнітів, що забезпечує зручність настройки оптичної схеми. Перший експеримент полягає у визначенні довжини хвилі випромінювання напівпровідникового лазера. Випромінювання лазера проходить через дифракційну решітку і потрапляє на лінійку, яка розміщується в 50-70см від дифракційної решітки. Завдяки нахилу робочої поверхні лінійки все порядки дифракційного спектра добре видно учням. Кут дифракції визначається з геометричних даних. Після цього на підставі формули, що зв’язує довжину хвилі випромінювання, період дифракційної решітки, кут і номер порядку дифракції визначається довжина хвилі випромінювання лазера. У другому експерименті плавно підвищують напругу живлення напівпровідникового лазера і за допомогою цифрового вольтметра вимірюють напругу, при котрій стає видимим пляма від променя лазера на лінійці. Знаючи напругу, при котрій p-n-перехід починає випромінювати світлові кванти і частоту випромінюваного напівпровідниковим приладом світла, можна визначити постійну Планка. Для проведення дослідів необхідні: металева класна дошка, цифровий вольтметр (демонстраційний), метр демонстраційний